DOI:
矿床地质:2010,Vol.>>Issue(Z12):823-824

过刊浏览  |  高级检索  |   下载PDF阅读器  |   HTML
< 前一篇<  >后一篇 >

0
下载全文

电子探针与微区X 射线衍射联合应用研究——以羟硅铍石的鉴定为例
葛祥坤  范光  夏晨光  艾永亮
核工业北京地质研究院
()
本文二维码信息
码上扫一扫！

摘要
图/表
参考文献
相似文献

摘要点击次数: 1280   全文下载次数: 1751   点此下载全文
        
文章编号：    
中图分类号：     
文献标志码：

引用文本：
葛祥坤,范光,夏晨光,艾永亮.2010.电子探针与微区X 射线衍射联合应用研究——以羟硅铍石的鉴定为例[J].矿床地质,29(Z12):823~824
.2010.[J].Mineral Deposits29(Z12):823~824
图/表
您是第244247148位访问者  京ICP备05032737号-5  京公网 安备110102004559
主管单位：中国科学技术协会 主办单位：中国地质学会矿床地质专业委员会 中国地质科学院矿产资源研究所
地　　址： 北京市百万庄大街26号 邮编：100037 电话：010-68327284;010-68999546 E-mail： minerald@vip.163.com
本系统由北京勤云科技发展有限公司设计 
手机扫一扫